PerkinElmer SimulScan Dual-Stage Detector for NexION 350/1000/2000
Damit werden wertvolle oder begrenzte Proben geschont, zeitaufwändige Probenverdünnungen entfallen und unbekannte Proben können schnell charakterisiert werden. Der zweistufige Detektor ist ein integraler Bestandteil des NexION ICP-MS SimulScan-Systems. Dieser diskrete Dynoden-Elektronenvervielfacher misst sowohl hoch- als auch niedrigaktive Analyten gleichzeitig.Mehr anzeigenWeniger anzeigen